半導體冷熱臺采用半導體冷熱控制，配合循壞水散熱，實現從-30~150℃（選型）的控溫。可以實現變溫光學測試，或者選配探針實現變溫電學測試。
一、儀器介紹：
半導體冷熱臺采用半導體冷熱控制，配合循壞水散熱，實現從-30~150℃（選型）的控溫。可以實現變溫光學測試，或者選配探針實現變溫電學測試。
二、儀器主要技術參數：
|
型號 |
CKL120-30 |
CKL150-30 |
|
制冷方式 |
半導體 |
|
|
溫控范圍 |
-30~120℃ |
-30~150℃ |
|
溫度精度 |
±0.1 |
|
|
溫度分辨率 |
0.1℃ |
|
|
最大加熱速率 |
50℃/min |
|
|
最大冷卻速率 |
-40℃/min |
|
|
樣品臺材質 |
鋁合金 |
|
|
樣品臺大小 |
Φ16mm |
|
|
最大振幅 |
≤2μm |
|
|
通光孔直徑 |
Φ2mm |
|
|
正面觀察窗大小 |
Φ18mm |
|
|
最小物鏡工作距離 |
3.5mm |
|
|
X、Y軸移動距離 |
±6mm |
|
|
位移分辨率 |
0.01mm |
|
|
外觀尺寸 |
140×95×20mm* |
|
|
腔體凈重 |
1kg |
|
新聞資訊
