光學冷熱臺支持與各類顯微鏡、光譜儀等光學儀器設備聯用，進行變溫下的光學觀察及測試。
一、儀器介紹：
顯微鏡冷熱臺的樣品臺位置可XY軸移動，方便觀察樣品，也可以取消位移臺，能達到體積最小化。此型號的冷熱臺可以通過氣氛或抽真空測試，可增加電學測試接頭。整體外觀精巧，腔體輕而薄，結構緊湊，適配各種品牌的偏光顯微鏡，可用于地質包裹體等樣品觀測。
二、儀器主要技術參數：
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型號 |
CKL120-30 |
CKL150-30 |
CKL300-190 |
CKL600-190 |
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制冷方式 |
半導體 |
液氮 |
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溫控范圍 |
-30~120℃ |
-30~150℃* |
-190~300℃* |
-190~600℃* |
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溫度精度 |
±0.1 |
±0.01 |
±0.1 |
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溫度分辨率 |
0.1℃ |
0.01℃ |
0.1℃ |
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最大加熱速率 |
50℃/min |
50℃/min |
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最大冷卻速率 |
-40℃/min |
-30℃/min |
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樣品臺材質 |
鋁合金 |
銀質 |
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樣品臺大小 |
Φ16mm |
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最大振幅 |
≤2μm |
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通光孔直徑 |
Φ2mm |
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正面觀察窗大小 |
Φ18mm |
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最小物鏡工作距離 |
3.5mm |
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X、Y軸移動距離 |
±6mm |
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位移分辨率 |
0.01mm |
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外觀尺寸 |
140×95×20mm* |
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腔體凈重 |
1kg |
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新聞資訊
